C.a.r.a.c.t.é.r.i.s.a.t.i.o.n.
Caractérisation
PLATEFORME
depuis
Aucune date
-
pas d'informations sur l'activité
La plateforme permet la caractérisation structurale et microstructurale des matériaux
EQUIPEMENT
-
Dualbeam Helios Nanolab 660 FEI
-
Diffractomètre de Rayons X Dicover D_ Bruker
-
Spectromètre de perte d'néergie des électrons
-
SIMS